会社案内 業務案内 自社製品のご案内 設計・試作品 アクセス お問い合せ トップページ
トップページ > 自社製品のご案内
自社製品のご案内

自社製品

精光技研では受注による製品製作だけでなく、世の中に需要のあると思われる製品を独自の技術とノウハウにて開発しております。これらの製品をベースにお客様のニーズに合った製品への仕様の変更や改造といったこともおこなっております。(こちらでは一般公開可能な製品を紹介しております。製品の詳細、その他の製品に関しましてはお問い合せください)


光干渉(WLI)センサー WLI1002B
光が通れば何でも断面計測
※ WLI:White Light Interferometer[低コヒーレント光干渉による断層画像化法]
  千葉大学 椎名研究室との共同開発
透光性層構造の計測

透光性層構造の計測
①計測深度:最大14mm
②分解能:深さ方向15μm
③サンプリング周波数:15Hz
④使用波長:1310nm(標準)850nm
⑤光源:SLD

樹脂レーザー溶着検査
樹脂レーザー溶着検査
フィルム接着不良検査
フィルム接着不良検査
レンズ中心厚み測定
レンズ中心厚み測定
透光性層構造の計測

樹脂板のレーザー溶着検査
樹脂板のレーザー溶着検査
 
接着剥離部検査
接着剥離部検査

光干渉センサー使用・活用例
成形ガラス計測例 プラ製品組込寸法確認 食品シール部検査例
Φ1.5ボールレンズ測定例 合わせレンズ計測例 シリコンウエハー計測例

この他にも様々な用途に応じて仕様変更可能です。
お問い合せからお気軽にご相談下さい。




オプト、マイクロ、真空のお問い合せはこちらから